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Mots clés: rugosimètre

Nom Description Compagnie
KORAD
KORAD
Système de mesure optique pour l’analyse de surface 3D utilisant le principe d’interférométrie a lumière blanche. La conception du système permet une analyse rapide et ultra précise tout en offrant une grande flexibilité de configuration et de logiciels d’analyse.

-Mesure avec une résolution nanométrique
-Champ de mesure jusqu'à 50 x 50 mm
-Rapport d’aspect 1 :10 (profilage d’un trou de 1x10 mm de profondeur)
-Très économique
SpecGAGE
SpecGAGE
Mesure de surface très réflective utilisant le principe de la Déflectometerie par mesure de phase en projetant des franges sinusoïdales sur la surface spéculaire. Cette méthode permet la mesure de variation infime de la surface indépendamant de la distance de travail. Le SpecGaGe est idéal pour la mesure de lentille asphérique, miroir, composante polie, cellule solaire, « Wafer » etc.

-Précision nanométrique
-Rapidité d’acquisition, mieux que 10 sec
-Logiciel facile d’utilisation pour la visualisation et l’analyse
µKORAD
µKORAD
Système de mesure optique pour l’analyse de surface 3D utilisant le principe d’interférométrie a lumière blanche. Due a sa rapidité d’analyse et sa précision les applications s’étalent sur une vaste gamme allant de l’application industrielle en production, les laboratoires de recherche et même la biotechnologie.

-Champ de vision 0.1 a 1.5 mm2
-Résolution latérale : 0.3 micron
-Précisons nanométrique
Altisurf 50
Altisurf 50
Système de mesure, conçu pour mesurer l’états de surface, profondeur de gravure et la planéité.

- Spécifications type : 0,5µ/50mm, poids: inf. 3 kgs
- Échelle de mesure de 130 µm à 3.5 mm
- Tables croisées modulaires de faible encombrement
- Capteur optique confocal chromatique 1Khz sur bus ou 4 Khz
- Logiciel AltiSurf50
Altisurf 520 Twin
Altisurf 520 Twin
Système de mesure, conçu pour analyser les états de surface et formes. Idéal pour les mesures de papier- emballage, sidérurgie, feuillards tous matériaux.

- Spécifications : Max.f.dév. à h=200mm inf. à 4µ/100mm
- Mesure multisonde double-face
- Multi-voies optiques 3 mm, 300µ, CCD
- Axes motorisés cc
Altisurf© 50
Altisurf© 50
Système de mesure optique 2D et 3D très compact et portatif conçu pour la topographie de surface, la rugosité, l’analyse de formes et la métrologie dimensionnelle.

•Capteur optique confocal chromatique
•Fréquence d’échantillonnage : 1kHz a 4 kHz
•Résolution : 0.02 µ
•Course: 25 x 25 x 25 mm
•Vitesse: jusqu’a 30 mm/s
•PC industriel
Confocam C101
Confocam C101
Une technologie optique basée sur l’éclairage structurée. Ce système complet comprend le ConfoCam unité, PC et logiciel de traitement. Il transforme votre champ de vision de microscope en unité d’analyse de surface 3D.

•Haute précision
•Mesure confocal sans pièces mobiles
•Illumination Laser ou LED ne sont pas requises
•Facile à maintenir
Confocam C201
Confocam C201
Une technologie optique est basée sur l’éclairage structurée, ce système de mesure 3D comprend un microscope, une unité ConfoCam, un ordinateur et logiciel de traitement. Système conçu pour les applications industrielles a proximité de la ligne de production.

•Très haute résolution : 2 nm
•Mesure confocal sans pièces mobiles
•Illumination Laser ou LED ne sont pas requises
•Facile à maintenir
Confocam C301
Confocam C301
Une technologie optique basée sur l’éclairage structurée, ce système 3D comprend un microscope de qualité, une unité ConfoCam, un ordinateur et logiciel de traitement, très haute flexibilité pour les utilisations industrielles.

•Très haute résolution : 2 nm
•Mesure confocal sans pièces mobiles
•Permet une Illumination Darkfield ou autre type d’illumination
•Facile à maintenir
Série Surftest
Série Surftest
Appareils à mesurer les états de surface :
- Testeurs d’état de surface portables
- Testeurs d’état de surface de type haute précision et haute performance avec unité de commande dédiée, système PC, affichage convivial et utilisation simple.
- Instruments de mesure d'état de surface CNC de haute précision – à munir d’un palpeur Vision pour la mesure d'état de surface dans tous les axes.
BW-D50X/BW-A50X
BW-D50X/BW-A50X
Profilmètre de mesure de surface 3D ayant une résolution verticale exceptionnelle et une prise d’image très rapide utilisant l’interférométrie à balayage pour atteindre une résolution en hauteur de l’ordre de 1PPM.

* Résolution de la hauteur effective : 15pm
* Vitesse de mesure : 4 secondes (scan 10µm)
* Haute résolution spatiale : 1.4 pixels
* Vue 3D
* Analyse des propriétés de surface
* Analyses de formes géométriques
* Transformateur d Images pour mesures la distance, la hauteur, les angles et les aspérités 2D et 3D entre 2 points
* Traçage de rayon
* Analyse de l épaisseur de film
BW-H501
BW-H501
Pour l’inspection et le profilage 3D de surface, rapide et de haute précision.
Utilisant l’interférométrie à lumière blanche et une nouvelle méthode de cyclage de franges avec caméra a haute vitesse (900 i/sec).

•Précision de 10 nm utilisant l’interférométrie a lumière blanche
•Mesure sur des surfaces optiquement diffues
•Temps de mesure : 0.2 sec/champ
•Échelle de mesure : 40 μm
•Logiciel de contrôle d’image en temps réel – BridgeElements
ECLIPSE 80i / 90i
ECLIPSE 80i / 90i
Microscope avec imagerie digitale pour la recherche et la documentation offert en version a tète motorisée.

•Système d’optique : CFI60
•Lentille de type « Fly-eye » offrant une illumination uniforme
•Lentilles : 10X, 10X M, 12.5X, 15X, UW10X, UW 10X M
•Magnification : 10 –1500X
•Objective avec correction chromatique de la périphérie permettant le rapiéçage d’images.
ECLIPSE C1 Plus
ECLIPSE C1 Plus
Système modulaire de microscopie confocal laser dans un design ultra-compact incorporant un scanner bidirectionnel optimisant l’acquisition d’image. Des options de contrôle laser permetant de contrôler son intensité.

•Type de laser : V-LD; Ar, Multi-Ar, G-HeNe, Y-HeNe, R-HeNe
•Canal : 3 canaux fluorescence + 1 canal DIC
•Détection a 3 canaux simultanés,
•Support de presque toutes les techniques d’imagerie
•Contrôle motorisé de distance focal à 50nm
•Vitesse de scan : 3 I/ sec
ECLIPSE C1si
ECLIPSE C1si
Système de microscopie laser confocal pour l’imagerie spectrale quantitative offrant une grande bande de détection ainsi qu’une trés haute résolution spectrale.

•Précision : 160 x 160 à 2048 x 2048 pixels
•Bande spectrale : 400-750 nm
•Temps de scan : 1.68 μs/pixel
•Mode de scan : 2D / 3D / 4D
•Nombre de canaux : 32
HN-6060
HN-6060
Le HN-6060 est une nouvelle génération de système d’inspection sans-contact, représentant le fin du fin en métrologie en matière d’amélioration de la qualité et des performances de production. Grâce à un scanner laser de pointe, à une commande de tête 5-axes synchronisée, à une structure ultra rigide et à un puissant logiciel de traitement, le HN-6060 pose de nouvelles bases pour l’inspection ultra-précise et rapide des formes complexes : roues dentées, pales de turbines, boîtiers d’appareils et bien d’autres encore.

•Trois axes Orthogonaux (X × Y × Z) 600 mm × 600 mm × 600 mm (24 x 24 x 24 )
•Diamètre maximum (φ) de l'objet pour l'inspection : 300mm
•Hauteur maximale (H) de l'objet pour l'inspection : 200mm
•Poids maximum de l'objet pour l'inspection : 20kgs
•Dimensions de l'unité principale 1836 mm (W) × 1540 mm (D) × 2625 mm (H)
•Poids de l'unité principale : 2600 kg
•Distance de mesure 20 mm linéaire
•Plage de détection Hauteur ± 10 mm
•Plage de grossissement :
- grossissement optique: 1x - 1.5x
- grossissement d'écran: 36x-540x

Microscope Optelics H1200
Microscope Optelics H1200
L’ Optelics H1200 est un microscope confocal avec un système avancée de capteur d’image 3-CCD qui permet l'acquisition rapide et précise d’images Couleur de 12 millions de pixels. Son optique avancé permet de réaliser des mesures de haute résolution sur un large éventail de grossissements, il permet d’analyser des échantillons en semi-sphère ou avec des formes en V et de les exprimer en 3D . Le microscope H1200 réalise des observations très claire, y compris dans les zones avec des intensités lumineuses non uniformes.
•Résolution : 0.001µm
•Agrandissement : 5 X à 2800 X
•Cadence : 7.5Hz à 120 Hz
•Logiciel : fournis
Inspection optique de la surface
Inspection optique de la surface
Le ABISoptimizer est le premier capteur portatif pour la mesure de qualité de la surface d'un produit, en particulier dans l’industrie automobile, aéronautique, métal en feuille et les produit de consommation. Le fini de surface représente un critère important pour les clients et est, entre autres, fortement rattachée à la qualité générale du produit. Même les problèmes inévitables lors des premières étapes de production avant le laquage (p. ex. au pressage ou en coque brute) peuvent provoquer des défauts tels que, p. ex., des creux, des bosses, des dépressions, etc. qui ne sont pas visibles à l'œil nu à l'état non laqué.
A un prix abordable le ABISoptimizer peut être opérer avec un minimum de préparation. Il est doté d’un logiciel convivial qui lui permet de déceler des imperfections de surface minimes evitant ainsi les rejets en
fin de production.
- Champs de vision : 200 x 300 mm2
- Temps d’acquisition :0.1sec
- Tille de défectuosités détectées : 10 µm
- Système complètement robotisé, disponible
MC2
MC2
Microscope Confocal Chromatique.

● Profondeur de champ étendue (plusieurs mm) avec une parfaite mise au point
● Ouverture numérique importante permettant la vision de détail, y compris dans les pentes
● Pas de cross-talk dû à la confocalité de l’architecture opto-mécanique
● Pas de déplacement axial de la tête optique
● Tête optique passive
● Évite les autofocus
● Totalement insensible* aux vibrations
● Vitesse d’acquisition de lignes extrêmement rapide (jusqu’à 60KHz.)
MicroMesure
MicroMesure
Station de mesure optique 3D sans contact pour des applications de microtopographie, de rugosimétrie, de contrôle qualité d'usinages de précision, d'analyses de formes et de textures, de caractérisation de surfaces et de métrologie dimensionelle.
Micromesure 2
Micromesure 2
Station de mesure Optique 3D sans contact. Grande dynamique de mesure de 20 microns a 10 mm. Equipée de sélecteur automatique de capteurs et un logiciel d'une grande richesse fonctionelle.
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