Vous avez: 5 produits selectionnés

Nom Description Compagnie
JMS-700 MStation™
JMS-700 MStation™
Spectromètre de Masse Double Focalisation à Secteur Magnétique entièrement automatisé et de haute performance, conçu à la fois haute résolution GC / MS et LC / MS analys, et capable d'atteindre un pouvoir de résolution de 60 000 ou plus à 10% de vallée.

Le MStation™ utilise un système de lentille quadripolaire pour optimiser la transmission d'ions et la forme du faisceau entre la source d'ions et le secteur magnétique. Ce système de lentille quadripolaire permet l'utilisation d'une fente d'entrée large et donc plus d'ions sont transmis dans l'analyseur de masse puis sur une double conception classique de focalisation de l'instrument. L'utilisation d'une source d'ions à 10 kV, en combinaison avec un détecteur d'ions à base de dynodes de conversion de postacceleration permet une détection efficace de soit des ions positifs ou négatifs.
Le MStation™ est garanti pour détecter l'ion moléculaire dérivé de 200 pg de stéarate de méthyle avec un rapport S / N de 400 ou mieux dans le mode AE.
JMS-800D
JMS-800D
Spectromètre de masse analyseur de dioxine avec des fonctionnalités avancées telles qu’un détecteur photomultiplicateur permettant une plus grande stabilité sur une période plus longue que celle d'un multiplicateur d'électrons classique . Son interface à double colonne permet à deux colonnes d’être connectées à la source d'ions en même temps et d’ être modifiées sans casser le vide de la source d'ions.

- Haute résolution (60 000 à 10% de vallée).
- Haute sensibilité (S / N> 30 garantie pour la 2,3,7,8-TeCDD 30 fg).
- Fonctionnement entièrement automatisé avec une interface utilisateur graphique facile à utiliser et diagnostics intégrés pour tous les paramètres de l'instrument
- Facile d'entretien et un fonctionnement fiable
JMS-S3000
JMS-S3000
Premier spectromètre de masse MALDI-TOF à analyseur à Temps de Vol de type SPIRAL d'Ultra-Haute Performance.
L'optique ionique ''Spiral'', sous brevet JEOL, assure une distance de vol pour les ions de 17m dans un volume très compact. Le SpiralTOF™ devient le must de sa catégorie en intégrant des performances inégalées pour un Maldi-TOF:

- Différentes configurations possibles: SpiralTOF, TOF/TOF et TOF linéaire
- Résolution >60,000 pour une large gamme de masse
- Précision en masse inférieure à la ppm en standard interne
- Sélectivité sur l'ion précurseur mono isotopique
- Une vraie Dissociation Induite par Collision à Haute Energie (20 keV CID)
- Élimination des artéfacts formés en Post Source Decay(PSD)
JMS-T100GCV - AccuTOF™ GCv 4G
JMS-T100GCV -  AccuTOF™ GCv 4G
Système GC/MS possédant la meilleure sensibilité (S/N > 100 OFN à 1pg/µL) de son segment avec sa haute résolution et sa grande précision sur la masse permettent une détermination rapide de la composition élémentaire et l'identification de composés cibles.

Le JMS-T100GCv est parfaitement adapté à l'analyse de composés inconnus dans des mélanges complexes même à des faibles concentrations. Ses domaines d'applications sont très larges tels que l'environnement, la pétrochimie, les polymères, les matériaux, la médecine, l'agroalimentaire, les parfums...

- Précision sur la masse : 1,5mDa ou 4 ppm(r.m.s.)
- Résolution : R≥ 8000 (m/z 617)
- Sensibilité : S/N ≥ 100(OFN 1pg)
- Vitesse d'acquisition jusqu'à 50 spectres/sec
- Gamme de masse m/z 4 ~ 5000
- Modes d'ionisation EI (+/-), C I (+/-), FI, FD, DEI (+/-), DCI (+/-)
- Modes d'introduction : Couplage GC, DEP (Sonde d'Exposition Directe), DIP (Sonde d'Insertion Directe), FD (Sondes à Désorption de Champ), Sonde LIFDI (par Linden CMS)
JMS-T100LP AccuTOF™ LC plus 4G
JMS-T100LP AccuTOF™ LC plus 4G
Spectromètre de masse à haute résolution de temps de vol (API-HRTOFMS) avec une ionisation de la pression atmosphérique offrant des solutions pour une grande variété de domaines des technologies d'ionisation uniques de JEOL, DART et ColdSpray, en plus de l'ionisation par électronébulisation standard (ESI), la technique la plus largement utilisée d'ionisation pour chromatographie en phase liquide.

AccuTOF DART
L'AccuTOF DART augmente d'une façon significative votre capacité d'analyse.
Plus besoin de solvant, plus besoin d'une préparation fastidieuse, il suffit uniquement de placer l'échantillon entre la source DART et l'entrée du spectromètre pour obtenir des mesures de masse à très haute précision et haute résolution.

L'AccuTOF DART peut analyser la plupart des composés issus de réactions de synthèse, d'extraits bruts, de poudres ou de tablettes inconnues, de liquides plus ou moins visqueux, de vapeurs, ou de tout type de matière...
d'une source electrospray (ESI) orthogonale.

Recherche (avancée?):
mots populaires
Instrumentation et contrôle
Aller à : -Environnement- -Geotechnique-
www.hoskin.qc.caNotre nouveau site web!
   
  Produits
     
nouveautés?
Version HTML du MENU :
A
ccéléromètre
A
coustique
A
cquisition de données
A
némomètre
A
ppareillage d’essais
lineélectriques et Fibre
lineOptique
A
utomate programmable
line- PLC
A
utomation
lineIndustrielle
C
alibration
C
améra
C
amera haute vitesse
C
apteur
C
ellule de charge
C
hambres d'essais
C
ode à barres
C
ommunication
C
omparateur Optique
C
ompteur - Minuterie
C
onditionneur de
linesignal
C
ontrainte
C
ontrôleur
C
onvertisseur -
lineInterface
C
onvertisseur - USB
C
ouplemètre
D
ébitmètre et
linerégulateur de débit
D
éplacement - Mesure
D
étecteur
D
étecteur de gaz
D
ifférentielle de
linePression
D
uromètre -
lineApareillage d'essais
D
ynamomètre
E
ncodeur
E
ssaie et Mesure
E
ssaies non
linedestructives
F
ibre Optique
G
allerie Video
G
énie civil
G
oniophotomètre
H
umidité - Point de
lineRosée
I
nclinomètre -
lineOrientation
I
ndicateur
I
ntégration
I
ntensité Lumineuse
I
nterface Opérateur
I
onisation et Charge
lineStatique
L
aser - Mesure Optique
L
ogiciels
L
ogiciels –
lineValidation
L
VDT
M
achines d'Essaie
M
anomètre Digital
M
arquage au laser
M
esure 3D
M
étallographie
M
étrologie
M
icroscope
M
icroscope à Balayage
lineÉlectronique (SEM)
M
icroscope Digital
N
on classe
N
iveau
P
esage
P
hotoéléctrique
P
oint de rosée
P
ompes dosage et
linetransfert
P
ositionnement
P
réparation
lined’échantillons pour
lineSEM, TEM, STEM, EPMA
lineet AUGER
P
ression - Capteur
P
rofilomètre
P
roximité
R
éseaux
R
ugosimètre
S
ervo-Moteur
S
hearographie
S
onomètre
S
oudure - Capteur
S
pectrocolorimètre
S
pectromètre à
lineFluorescence –Rayon-X
line (XRF)
S
pectromètre de Masse
line(MS)
S
tation météo
S
ystème d’inspection
S
ystème PIV
T
élémétrie
T
empérature
T
ransmetteur
U
ltrason
V
ibration
V
iscosimètre
V
ision - Caméra
V
itesse