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Nom Description Compagnie
JAMP-9510F
JAMP-9510F
Nanosonde Auger à émission de champ pour les analyses chimiques d'extrême surface. Ses capacités de résolution spatiale et énergétique sont atteintes grâce à 3 éléments essentiels : Une excellente colonne électronique, un détecteur hémisphérique HSA et un canon à ions

- Canon à effet de champs Schottky In-Lens
- tension d'accélération : 0.5 à 30kV
- Courant de sonde : 400nA
- Détecteur de courant: Cage de faraday dans la colonne
- Analyseur hémisphérique
- Détecteurs : Multi-canaux: 7
- Vide 5 x 10-8 Pa
- Platine X: -48mm to +10mm
- Y: ± 10mm
- Z: ± 6mm
- T: 0 to 90°
- R: 360° X, Y, Z, T, R motorisé
- canon à ions
Tension d'accélération / 0.01 4 kV
Densité de courant ›2µA at 3,000 eV, ›0.03µA at 10 eV
JCM-6000
JCM-6000
Microscope électronique à balayage, dans une version combinant puissance et économie permettant d’obtenir des images à fort grossissement (x60,000) avec une résolution élevée et une grande profondeur de champ.
Ce microscope est aussi simple d’utilisation qu’un appareil photo numérique et dispose de la puissance d’une optique électronique d'un MEB JEOL.

- Grossissement De x10 à x60,000
- Modes d'observation : Vide poussé et vidé partiel
- Tensions d’accélération 15 kV, 10 kV, et 5 kV
- Réglage canon : Tout automatique comme les vrais MEB: chauffage, saturation et centrage XY par déflection électromagnétique du canon. Aucune molette de réglage sur le canon. C'est unique sur le marché du MEB de table
- Platine : X: 35mm, Y: 35mm
- Taille maximum de l'échantillon 70mm de diamètre et 50mm de hauteur
- Mode de détection Détecteur d'électrons secondaires ET Détecteur d'électrons rétrodiffusés, c'est unique sur le marché du MEB de table
- Informatique PC tactile sous Windows 7, le GUI couvre tout écran LCD de 21 à 72 pouces et ne se limite pas à la taille d'un écran de PC portable. C'est unique sur le MEB de Table
- EDS : Détecteur SDD de technologie JEOL à détection des éléments légers
- Logiciel intégré dans le logiciel du MEB.
- Correction automatique du probe tracking intéractive intégrée au logiciel.
- Cartographie X, Edition de rapport avec possibilité d'export Word TM Powerpoint TM...
JIB-4501
JIB-4501
Nouvelle plateforme JIB 4501 combinant imagerie SEM haute résolution et découpant des échantillons à l’échelle du 1/10 de micron.

Colonne FIB
- Source ionique : Ga liquid metal ion source
- Résolution 5nm @ à 30kV
- Tension d'accélération 1 à 30kV (in steps)
- Grossissement 30x (for wide view)
100X to 300,000X
- Courant Maxi 60nA (à 30kV)

Colonne MEB
- Source LaB6
- Résolution 2.5nm @ à 30kV
- Tension d'accélération 0.3 à 30kV (in steps)
- Grossissements 5X to 300,000X
- Courant Maxi 1,000nA (at 30kV)
- Platine Goniométrique
X: 76mm
Y: 76mm
Z: 5 à 48mm
- Z' for eucentric point adjustment
- T: -10° to 90°; R: 360° endless
- Type de Pompes SIP (x2), TMP/RP (x2)
- Caractéristiques Essentielles Low vacuum (LV)
- Détecteur Backscatter (BEI)
- Gas injection unit (1)
JIB-4601F
JIB-4601F
Nouvelle plateforme de microscope JEOL équipée d’un canon à émission de champ et d’une Source Ionique de nouvelle génération pour un découpage et un suivi de la gravure en temps réel.

FIB (Focused Ion Beam)
- Source ionique : Ga liquid metal ion source
- Tension d'accélération De 1 à 30 kV
- Grandissement De 30x à 300,000x
- Résolution plus petit que 5 nm
- Courant de faisceau Jusqu'à 60nA
MEB FEG
- Tension d'accélération De 0.2 à 30 kV
- Grossissements : De 20x à 1,000,000x
- Résolution 1.2 nm
- Courant de faisceau de 1 pA à >400 nA
- Platine X: 50 mm; Y: 50 mm; Z: De 1.5 à 41 mm; T: -5 to 70°; R: 360°
JSM-6010Plus LA InTouchScope
JSM-6010Plus LA InTouchScope
Microscope Électronique à Balayage compact multi-applications qui permet de travailler sur tout type d'échantillons : biologiques, minéralogiques, métallurgiques, polymères etc…

L'™InTouchScope offre une toute nouvelle expérience de la microscopie électronique en utilisant la technologie WiFi et la convivialité des appareils électroniques d'aujourd'hui. (Smartphone, Tablette tactile, etc.)
L'interface est intuitive: toutes les Applications du MEB sont accessible du bout des doigts grâce à l’écran tactile. L'utilisateur peut élargir les fenêtres et les images avec deux doigts, changer le grandissement, le focus d’un seul geste. Avec le JSM-6010PLus , vous accédez aux capacités et résolutions des meilleurs MEB tungtène JEOL avec la simplicité des MEB de table !
Une version analytique de l’™InTouchScope est disponible grâce à la spectroscopie à dispersion d'énergie (EDS, EDX) avec un nouveau détecteur SDD (sans azote) de dernière génération entièrement intégré dans le logiciel tactile du MEB.
- Grossissements De x5 à x300,000 (format polaroid)
- Tension d'accélération :à partir de 500V
- Résolution : 3,7nm à 20keV, 15nm à 1keV, 8nm à 3keV
- Détecteurs : Détecteur d'électrons secondaires type Everhart Thornley
Détecteur d'électrons rétrodiffusés: multi-segments BSED
- Mode Pression Variable ; Standard
- Platine Goniométrique eucentrique : X=80mm, Y=40mm, Z=5mm-48mm
R=360° (continu)
Tilt -10/+90°
(Motorisation disponible)
- Taille de l'échantillon Jusqu'à 150mm de diamètre
- Informatique Au choix: PC portable ou Ordinateur tactile grand écran, Ipad(TM) Ready
- Résolution max des images 5120×3840
- EDS SDD intégré (Dans la version LA)


Nouveau ! Vous pouvez piloter entièrement votre MEB grâce à votre Ipad ! Toutes les fonctionnalités du MEB sont disponibles à partir de l'Ipad: déplacement de l'échantillon, grandissement, focus, contraste, brillance, etc. Vous pouvez désormais aider d'autres utilisateurs du MEB sans bouger de votre bureau !
JSM-6510 LV
JSM-6510 LV
Microscope Électronique à Balayage avec Canon à filament de tungstène pour: l'analyse de défauts, l'inspection, la caractérisation, l'imagerie, l'analyse X, les échantillons humides, les échantillons non conducteurs et non préparés et permettant de travailler en vide conventionnel ou dégradé, pour l’analyse de divers types d'échantillons (métalliques, céramiques, polymères et organiques) en évitant au maximum les phénomènes de charge.

- Résolution HV 3,0 nm (30 kV), 8 nm (3 kV), 15 nm (1 kV)
- Mode LV 4,0 nm (30 kV)
- Grossissement × 5 × à 300 000 (format de l’image 128 mm × 96 mm)
- Grossissements prédéfinis 5 étape, sélectionnable par l'utilisateur
- Conditions de fonctionnement personnalisées (Optique, mode image, la pression LV * 1)
- Tension d'accélération de 0,5 kV à 30 kV
- Filament : Filament usine pré-centrée
- Canon à électrons Entièrement automatisé, commande manuelle
- Condenseur Zoom lentille de condenseur
- Objectif de Super conique objectif
- Image électrique changement ± 50 pm (WD = 10 mm)
- Fonctions de mise au point automatique, luminosité, contraste, stigmateur
- Platine Eucentrique : X: 80 mm, Y: 40 mm, Z: 5 mm à 48 mm,
- Tilt: -10 ° à 90 °, 360 ° de rotation
JSM-7100F
JSM-7100F
Microscope Électronique à Balayage avec un canon à émission de champ (FEG) à cathode chaude (Schottky) en High Vacuum ou en Low Vacuum pour les applications analytiques exigeantes et pour la haute résolution. Le JSM-7100F est équipé d’une grande platine, 5-axes motorisée, eucentrique, et d’un sas d’introduction d’échantillons semi-automatique.

Les applications de ce microscope peuvent être étendues à de nombreux systèmes d'analyses grâce à une géométrie optimale. La chambre objet accepte des échantillons jusqu’à 200mm de diamètre.
La nouvelle interface graphique offre une facilité d'utilisation exceptionnelle. Quatre images actives (Live) peuvent être visualisées simultanément, incluant le mixage de signaux. Elles peuvent toutes être acquises et enregistrées simultanément avec un seul balayage.

Le MEB FEG JSM-7100F intègre les systèmes EDS, WDS, lithographie électronique, tomographie X, cathodoluminescence, EBIC, Cryo, base de données images, etc.

- Résolution : 1.2 nm (à 30 kV)
2.0 nm (à 1.0 kV en mode GB)
- Résolution Analytique : 3.0 nm (à 15 kV, WD 10mm, 5nA)
- Tension d’Accélération De 10V à 30 kV
- Grossissements x10 to 1,000,000x (au format 120mm x 90mm)
- Modes images : SED (image en électrons secondaires)
SRBED - Option (image en électrons rétrodiffusés
UED - Option - Détecteur In-Lens avec système de filtrage en énergie (SE et BSE)
- Platine : Eucentrique mécaniquement à toutes distances de travail (5 axes motorisés)
- Sas d’introduction d’objet : Standard, pour échantillon de 100mm de diamètre
- Sélecteur d’Images : SEI, COMPO, TOPO, EDS, ADD, Entrée Auxiliaire
- Fonctions automatiques
AFD (Auto Focus)
ACB (Auto Contraste et Brillance)
ASD (Auto Astigmatisme)
AFD ACB
JSM-7800F et JSM-7800F Prime
JSM-7800F et JSM-7800F Prime
Microscopes Électroniques à Balayage avec un canon à émission de champ (FEG) Ultra haute-résolution (UHR) Analytique pour un large éventail de domaines de recherche permettant d’obtenir des résolutions subnanométriques même à 1kV et de révéler les reliefs d'extrême surface grâce à une tension d’accélération pouvant descendre jusqu’à 10V grâce à sa toute nouvelle lentille objectif Super Hybride et aux développements de JEOL sur la colonne électronique (High Brightness Gun)

Le JSM-7800F Prime est le seul appareil vous garantissant une résolution de 0,7nm de résolution de 30kV à 1kV sans réglages spécifiques dans la colonne !

Le JSM-7800F Prime couplé aux derniers développements d'EDS permet désormais d'atteindre 5nm de résolution en EDS

- Technologie d'émission : Schottky à immersion (Brevet JEOL) et (High Brightness Schottky à immersion pour la version JSM-7800F Prime)
- Résolution 0,8 nm (15 kV) et 0,7 nm (15 kV) pour le JSM-7800F Prime
1,2 nm (1 kV) et 3nm à 100 V, et 0.7 nm (1kV) pour le JSM-7800F Prime
Résolution possible de 0,6 nm (30 kV) en mode STEM
- Grandissements de x25 à x1.000.000 (format 120mm x 90mm)
- Tension d’accélération de 10 volts à 30 kV
- Courant de faisceau de 1 pA à >400 nA
- Détecteurs BEI, SEI IN LENS dans la lentille et
- BEI, SEI dans la chambre
- Détecteur SRBEI rétractable
- Filtre en Energie permettant de sélectionner le signal SE ou BSE
- Gentle beam Décélération intégrée de faisceau
- Sas d’introduction d’échantillons standard semi-automatique
- Platine Eucentrique, Platine motorisée 5 axes
- Design économie d’énergie : Consommation en utilisation standard: 1,2 kVA
- Mode veille: 1 kVA
- Console opératoire à l’arrêt: 0,76 Kva
JSM-IT300 et JSMIT-300LV
JSM-IT300 et JSMIT-300LV
Microscope électronique à balayage performant pour la caractérisation rapide de la matière dans tous les domaines de la recherche fondamentale et pour des applications industrielles et d’expertises.
Avec une résolution de 3.0nm à 30kV et 15nm à 1kV, le JSM-IT300 permet l’observation d’une grande variété d’échantillon, des polymères grâce à la basse tension (15nm à 1kV) aux matériaux métalliques en passant par les poudres et les échantillons géologiques.
Le JSM-IT300LV permet des observations de routine à des grandissements bien supérieurs à ceux d’un microscope optique avec très grande une profondeur de champs. Le microscope électronique à balayage permet des mesures détaillées, y compris la mesure 3D à partir d'images stéréo. L'affichage simultané des images en électrons secondaires et rétrodiffusés permet à l'utilisateur d’observer et de comparer des détails spécifiques.
Cet appareil est également un outil Analytique il peut être équipé d’un système à dispersion d'énergie (spectromètre à rayons X, EDS) pour l’analyse élémentaire dans sa version JSM-IT300LA, d’un spectromètre en longueur d’onde (WDS), de cathodoluminescence de lithographie, de diffraction électronique (EBSD), de lithographie et de nombreux autres outils de caractérisations( platine chauffante, traction, etc….)...

- Grossissements De x5 à x300,000
- Tension d'accélération à partir de 300V
- Détecteurs : Détecteur d'électrons secondaires large angle solide
- Détecteur d'électrons rétrodiffusés: type NIP(brevet JEOL)
- Mode Pression Vide poussé et Mode pression variable 10Pa à 650Pa pour la version JSm-IT300LV
- Platine Goniométrique eucentrique X=125mm, Y=100mm, Z=5mm-80mm
R=360° (continu)
Tilt -10/+90°
- Taille de l'échantillon Jusqu'à 200mm de diamètre
- Informatique Au choix: PC portable ou Ordinateur tactile grand écran, Ipad(TM) Ready
- Résolution max des images 5120×3840
- EDS SDD intégré (Dans la version LA)
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