Nanosonde Auger à émission de champ pour les analyses chimiques d'extrême surface. Ses capacités de résolution spatiale et énergétique sont atteintes grâce à 3 éléments essentiels : Une excellente colonne électronique, un détecteur hémisphérique HSA et un canon à ions

- Canon à effet de champs Schottky In-Lens
- tension d'accélération : 0.5 à 30kV
- Courant de sonde : 400nA
- Détecteur de courant: Cage de faraday dans la colonne
- Analyseur hémisphérique
- Détecteurs : Multi-canaux: 7
- Vide 5 x 10-8 Pa
- Platine X: -48mm to +10mm
- Y: ± 10mm
- Z: ± 6mm
- T: 0 to 90°
- R: 360° X, Y, Z, T, R motorisé
- canon à ions
Tension d'accélération / 0.01 4 kV
Densité de courant ›2µA at 3,000 eV, ›0.03µA at 10 eV

Nouvelle plateforme JIB 4501 combinant imagerie SEM haute résolution et découpant des échantillons à l’échelle du 1/10 de micron.

Colonne FIB
- Source ionique : Ga liquid metal ion source
- Résolution 5nm @ à 30kV
- Tension d'accélération 1 à 30kV (in steps)
- Grossissement 30x (for wide view)
100X to 300,000X
- Courant Maxi 60nA (à 30kV)

Colonne MEB
- Source LaB6
- Résolution 2.5nm @ à 30kV
- Tension d'accélération 0.3 à 30kV (in steps)
- Grossissements 5X to 300,000X
- Courant Maxi 1,000nA (at 30kV)
- Platine Goniométrique
X: 76mm
Y: 76mm
Z: 5 à 48mm
- Z' for eucentric point adjustment
- T: -10° to 90°; R: 360° endless
- Type de Pompes SIP (x2), TMP/RP (x2)
- Caractéristiques Essentielles Low vacuum (LV)
- Détecteur Backscatter (BEI)
- Gas injection unit (1)

Microscope Électronique à Balayage compact multi-applications qui permet de travailler sur tout type d'échantillons : biologiques, minéralogiques, métallurgiques, polymères etc…

L'™InTouchScope offre une toute nouvelle expérience de la microscopie électronique en utilisant la technologie WiFi et la convivialité des appareils électroniques d'aujourd'hui. (Smartphone, Tablette tactile, etc.)
L'interface est intuitive: toutes les Applications du MEB sont accessible du bout des doigts grâce à l’écran tactile. L'utilisateur peut élargir les fenêtres et les images avec deux doigts, changer le grandissement, le focus d’un seul geste. Avec le JSM-6010PLus , vous accédez aux capacités et résolutions des meilleurs MEB tungtène JEOL avec la simplicité des MEB de table !
Une version analytique de l’™InTouchScope est disponible grâce à la spectroscopie à dispersion d'énergie (EDS, EDX) avec un nouveau détecteur SDD (sans azote) de dernière génération entièrement intégré dans le logiciel tactile du MEB.
- Grossissements De x5 à x300,000 (format polaroid)
- Tension d'accélération :à partir de 500V
- Résolution : 3,7nm à 20keV, 15nm à 1keV, 8nm à 3keV
- Détecteurs : Détecteur d'électrons secondaires type Everhart Thornley
Détecteur d'électrons rétrodiffusés: multi-segments BSED
- Mode Pression Variable ; Standard
- Platine Goniométrique eucentrique : X=80mm, Y=40mm, Z=5mm-48mm
R=360° (continu)
Tilt -10/+90°
(Motorisation disponible)
- Taille de l'échantillon Jusqu'à 150mm de diamètre
- Informatique Au choix: PC portable ou Ordinateur tactile grand écran, Ipad(TM) Ready
- Résolution max des images 5120×3840
- EDS SDD intégré (Dans la version LA)


Nouveau ! Vous pouvez piloter entièrement votre MEB grâce à votre Ipad ! Toutes les fonctionnalités du MEB sont disponibles à partir de l'Ipad: déplacement de l'échantillon, grandissement, focus, contraste, brillance, etc. Vous pouvez désormais aider d'autres utilisateurs du MEB sans bouger de votre bureau !

Microscope Électronique à Balayage avec un canon à émission de champ (FEG) à cathode chaude (Schottky) en High Vacuum ou en Low Vacuum pour les applications analytiques exigeantes et pour la haute résolution. Le JSM-7100F est équipé d’une grande platine, 5-axes motorisée, eucentrique, et d’un sas d’introduction d’échantillons semi-automatique.

Les applications de ce microscope peuvent être étendues à de nombreux systèmes d'analyses grâce à une géométrie optimale. La chambre objet accepte des échantillons jusqu’à 200mm de diamètre.
La nouvelle interface graphique offre une facilité d'utilisation exceptionnelle. Quatre images actives (Live) peuvent être visualisées simultanément, incluant le mixage de signaux. Elles peuvent toutes être acquises et enregistrées simultanément avec un seul balayage.

Le MEB FEG JSM-7100F intègre les systèmes EDS, WDS, lithographie électronique, tomographie X, cathodoluminescence, EBIC, Cryo, base de données images, etc.

- Résolution : 1.2 nm (à 30 kV)
2.0 nm (à 1.0 kV en mode GB)
- Résolution Analytique : 3.0 nm (à 15 kV, WD 10mm, 5nA)
- Tension d’Accélération De 10V à 30 kV
- Grossissements x10 to 1,000,000x (au format 120mm x 90mm)
- Modes images : SED (image en électrons secondaires)
SRBED - Option (image en électrons rétrodiffusés
UED - Option - Détecteur In-Lens avec système de filtrage en énergie (SE et BSE)
- Platine : Eucentrique mécaniquement à toutes distances de travail (5 axes motorisés)
- Sas d’introduction d’objet : Standard, pour échantillon de 100mm de diamètre
- Sélecteur d’Images : SEI, COMPO, TOPO, EDS, ADD, Entrée Auxiliaire
- Fonctions automatiques
AFD (Auto Focus)
ACB (Auto Contraste et Brillance)
ASD (Auto Astigmatisme)
AFD ACB

Microscope électronique à balayage performant pour la caractérisation rapide de la matière dans tous les domaines de la recherche fondamentale et pour des applications industrielles et d’expertises.
Avec une résolution de 3.0nm à 30kV et 15nm à 1kV, le JSM-IT300 permet l’observation d’une grande variété d’échantillon, des polymères grâce à la basse tension (15nm à 1kV) aux matériaux métalliques en passant par les poudres et les échantillons géologiques.
Le JSM-IT300LV permet des observations de routine à des grandissements bien supérieurs à ceux d’un microscope optique avec très grande une profondeur de champs. Le microscope électronique à balayage permet des mesures détaillées, y compris la mesure 3D à partir d'images stéréo. L'affichage simultané des images en électrons secondaires et rétrodiffusés permet à l'utilisateur d’observer et de comparer des détails spécifiques.
Cet appareil est également un outil Analytique il peut être équipé d’un système à dispersion d'énergie (spectromètre à rayons X, EDS) pour l’analyse élémentaire dans sa version JSM-IT300LA, d’un spectromètre en longueur d’onde (WDS), de cathodoluminescence de lithographie, de diffraction électronique (EBSD), de lithographie et de nombreux autres outils de caractérisations( platine chauffante, traction, etc….)...

- Grossissements De x5 à x300,000
- Tension d'accélération à partir de 300V
- Détecteurs : Détecteur d'électrons secondaires large angle solide
- Détecteur d'électrons rétrodiffusés: type NIP(brevet JEOL)
- Mode Pression Vide poussé et Mode pression variable 10Pa à 650Pa pour la version JSm-IT300LV
- Platine Goniométrique eucentrique X=125mm, Y=100mm, Z=5mm-80mm
R=360° (continu)
Tilt -10/+90°
- Taille de l'échantillon Jusqu'à 200mm de diamètre
- Informatique Au choix: PC portable ou Ordinateur tactile grand écran, Ipad(TM) Ready
- Résolution max des images 5120×3840
- EDS SDD intégré (Dans la version LA)