Vous avez: 7 produits selectionnés
Mots clés: rugosimètre

Nom Description
BW-D50X/BW-A50X
BW-D50X/BW-A50X
Profilmètre de mesure de surface 3D ayant une résolution verticale exceptionnelle et une prise d’image très rapide utilisant l’interférométrie à balayage pour atteindre une résolution en hauteur de l’ordre de 1PPM.

* Résolution de la hauteur effective : 15pm
* Vitesse de mesure : 4 secondes (scan 10µm)
* Haute résolution spatiale : 1.4 pixels
* Vue 3D
* Analyse des propriétés de surface
* Analyses de formes géométriques
* Transformateur d Images pour mesures la distance, la hauteur, les angles et les aspérités 2D et 3D entre 2 points
* Traçage de rayon
* Analyse de l épaisseur de film
BW-H501
BW-H501
Pour l’inspection et le profilage 3D de surface, rapide et de haute précision.
Utilisant l’interférométrie à lumière blanche et une nouvelle méthode de cyclage de franges avec caméra a haute vitesse (900 i/sec).

•Précision de 10 nm utilisant l’interférométrie a lumière blanche
•Mesure sur des surfaces optiquement diffues
•Temps de mesure : 0.2 sec/champ
•Échelle de mesure : 40 μm
•Logiciel de contrôle d’image en temps réel – BridgeElements
ECLIPSE 80i / 90i
ECLIPSE 80i / 90i
Microscope avec imagerie digitale pour la recherche et la documentation offert en version a tète motorisée.

•Système d’optique : CFI60
•Lentille de type « Fly-eye » offrant une illumination uniforme
•Lentilles : 10X, 10X M, 12.5X, 15X, UW10X, UW 10X M
•Magnification : 10 –1500X
•Objective avec correction chromatique de la périphérie permettant le rapiéçage d’images.
ECLIPSE C1 Plus
ECLIPSE C1 Plus
Système modulaire de microscopie confocal laser dans un design ultra-compact incorporant un scanner bidirectionnel optimisant l’acquisition d’image. Des options de contrôle laser permetant de contrôler son intensité.

•Type de laser : V-LD; Ar, Multi-Ar, G-HeNe, Y-HeNe, R-HeNe
•Canal : 3 canaux fluorescence + 1 canal DIC
•Détection a 3 canaux simultanés,
•Support de presque toutes les techniques d’imagerie
•Contrôle motorisé de distance focal à 50nm
•Vitesse de scan : 3 I/ sec
ECLIPSE C1si
ECLIPSE C1si
Système de microscopie laser confocal pour l’imagerie spectrale quantitative offrant une grande bande de détection ainsi qu’une trés haute résolution spectrale.

•Précision : 160 x 160 à 2048 x 2048 pixels
•Bande spectrale : 400-750 nm
•Temps de scan : 1.68 μs/pixel
•Mode de scan : 2D / 3D / 4D
•Nombre de canaux : 32
HN-6060
HN-6060
Le HN-6060 est une nouvelle génération de système d’inspection sans-contact, représentant le fin du fin en métrologie en matière d’amélioration de la qualité et des performances de production. Grâce à un scanner laser de pointe, à une commande de tête 5-axes synchronisée, à une structure ultra rigide et à un puissant logiciel de traitement, le HN-6060 pose de nouvelles bases pour l’inspection ultra-précise et rapide des formes complexes : roues dentées, pales de turbines, boîtiers d’appareils et bien d’autres encore.

•Trois axes Orthogonaux (X × Y × Z) 600 mm × 600 mm × 600 mm (24 x 24 x 24 )
•Diamètre maximum (φ) de l'objet pour l'inspection : 300mm
•Hauteur maximale (H) de l'objet pour l'inspection : 200mm
•Poids maximum de l'objet pour l'inspection : 20kgs
•Dimensions de l'unité principale 1836 mm (W) × 1540 mm (D) × 2625 mm (H)
•Poids de l'unité principale : 2600 kg
•Distance de mesure 20 mm linéaire
•Plage de détection Hauteur ± 10 mm
•Plage de grossissement :
- grossissement optique: 1x - 1.5x
- grossissement d'écran: 36x-540x

Microscope Optelics H1200
Microscope Optelics H1200
L’ Optelics H1200 est un microscope confocal avec un système avancée de capteur d’image 3-CCD qui permet l'acquisition rapide et précise d’images Couleur de 12 millions de pixels. Son optique avancé permet de réaliser des mesures de haute résolution sur un large éventail de grossissements, il permet d’analyser des échantillons en semi-sphère ou avec des formes en V et de les exprimer en 3D . Le microscope H1200 réalise des observations très claire, y compris dans les zones avec des intensités lumineuses non uniformes.
•Résolution : 0.001µm
•Agrandissement : 5 X à 2800 X
•Cadence : 7.5Hz à 120 Hz
•Logiciel : fournis
Recherche (avancée?):
mots populaires
Instrumentation et contrôle
Aller à : -Environnement- -Geotechnique-
www.hoskin.qc.caNotre nouveau site web!
   
  Compagnies
     
nouveautés?
Version HTML du MENU :
3
D-Shape
A
bsolute Process
lineInstruments
A
DASH
A
dvanced Image
lineConcepts
A
eroqual
A
ltimet
A
rkon
A
RTEC
A
utomation Products
lineGroup Inc
B
D Sensors
B
einlich
B
ronkhorst
C
FX Technologies
C
incinnati Sub-Zero
C
olumbia Research Labs
C
onfovis
C
rystal Instruments
D
atum Electronics
D
ostmann Electronic
D
ytran Instruments
lineInc.
E
xtech
F
LIR Systems
F
ourier
G
antner
G
EOMAGIC
G
FM
G
OM
H
IROX
H
oneywell Sensotec
H
oskin
h
oskintrst
H
uba Control
I
CPDAS
I
DT
I
ML
I
MT
I
nnovision SYSTEMS
I
PETRONIK
J
eol
K
arl Storz
L
ebow
L
oadstar
M
+W Instruments
M
acro Sensors
M
antracourt
M
aple Systems
M
eggit
M
eiri
M
EMSIC
M
etronics
M
eyle
M
ICRO-EPSILON
M
icrosonic
M
icrostrain
M
IKROTRON
M
itutoyo
M
onitran
Non classe
N
ANOSCOPE
N
CTE
N
ikon
Comparateur Optique
Déplacement - Mesure
Linéaire
Avec Contact
Type Encodeur
Mesure de mouvements 2D - 3D
Inclinomètre - Orientation
Autocollimateur
Laser - Mesure Optique
Balayage
Logiciels
Analyse d'image
Banque de données
Génétique
Médecine & Biologie
Science des matériaux
Déplacement - Mesure
Mesure 3D
Microscopie
Rayon X / Tomographie
Mesure 3D
Analyse de forme
Analyse de surface
Bras de mesure
Bras Robotisé
Grand Volume
Machine de Mesures Tridimentionelles - CMM
Mesure 3D Métrologie
Rayon X - Tomographie
Table de Translation
Microscope
a Balayage Électronique
a Optique Inversée
a Polarisation
Accéssoires
Analyse de surface 3D
Confocal
de laboratoire - Biologie
Digital
Electro-Physiologie
Focalisation
Illumination
Inspection
Métrologie
Multizoom
Portatif
Stéréoscopique
Vision - Caméra
Caméra Haute Vitesse
Caméra Très Haute Résolution
Inspection
Microscope digital
N
oeding
O
nset
P
anther
P
ixsys Electronica
P
ositek
P
recitec
P
resi
P
roceq
P
ROSIG
P
ulstec
R
acine
R
edlake
r
st
S
chiltknecht
S
ENSOREX
S
ensy
S
ika
S
iko
S
IUI
S
olartron
S
teinbichler
S
TIL
S
UTRON
S
VSI
T
aergo
T
EA
T
ekscan
t
est2
t
est3
T
ML
T
PSH
T
RICOR
U
ltraflux
U
NIPULSE
V
aisala
V
ision Engineering
V
SE
W
englor