Vous avez: 3 produits selectionnés

Métal
Nom Description
Modèles HM-AAV-HV
Modèles HM-AAV-HV
Appareils d’essai de dureté micro pour tester des matériaux dans le domaine de la recherche et de la production.
- Testeurs de dureté micro Vickers avec une large plage de forces d'essai de 98,07 X10-3 N à 9,807 N (de 10 gf à 1 000 gf) pour mesurer différents types d'échantillons.
- Système automatique de tests de dureté Vickers pour effectuer toutes les opérations nécessaires dans les tests de dureté de Vickers et de Knoop, comme le chargement, l'indexage de tourelle, la mise au point, la détection des dimensions d'indentation et le mouvement de position de mesure entièrement automatique;
- Testeurs de dureté Vickers avec Une large plage de forces de test, depuis 1,961 N jusqu'à 490,3 N* (0,2 kgf - 50 kgf) pour mesurer une grande variété d'échantillons.
Modèles HR
Modèles HR
Appareils d’essai de dureté Rockwell et de dureté superficielle Rockwell.
Dans les tests de dureté Rockwell et de dureté superficielle Rockwell, un pénétrateur conique en diamant avec un angle de 120° et un rayon de courbure de 0,2 mm ou un pénétrateur à bille d'acier ou de carbure est appuyé sur l'échantillon.
- Appareils d’essai de dureté Rockwell avec Bras de pénétrateur en nez de dauphin pour atteindre facilement les surfaces intérieures (min. ø 40 mm/ø 22 mm*) et extérieures et permettre la mesure d'échantillons de tuyaux, ainsi que la surface supérieure d'un échantillon plat.
- Testeurs de dureté Rockwell/Rockwell Superficielle avec Chargement motorisé, moteur et Bouton de démarrage ou démarrage automatique.
MZT-500
MZT-500
Système de test micro zone pour évaluer les propriétés mécaniques de très petites zones d'échantillons ultra-fins dans les domaines de la recherche/développement et du contrôle qualité.
- Plage de force de test 0 à 1000mN
- Résolution du contrôle 0,916 µN
- Vitesse de chargement de 0,1 à 100 mN/s
- Plage de mesures de 0 à 20 µm
- Unité de mesure minimale 0,1 nm
- Pénétrateur Bercovici à pyramide triangulaire
- Caméra 1/3 de pouce en noir en blanc (410 000 pixels)
- Objectif (grossissement par moniteur) 100X (2500X)
Recherche (avancée?):
mots populaires
Instrumentation et contrôle
Aller à : -Environnement- -Geotechnique-
www.hoskin.qc.caNotre nouveau site web!
   
  Compagnies
     
nouveautés?
Version HTML du MENU :
3
D-Shape
A
bsolute Process
lineInstruments
A
DASH
A
dvanced Image
lineConcepts
A
eroqual
A
ltimet
A
rkon
A
RTEC
A
utomation Products
lineGroup Inc
B
D Sensors
B
einlich
B
ronkhorst
C
FX Technologies
C
incinnati Sub-Zero
C
olumbia Research Labs
C
onfovis
C
rystal Instruments
D
atum Electronics
D
ostmann Electronic
D
ytran Instruments
lineInc.
E
xtech
F
LIR Systems
F
ourier
G
antner
G
EOMAGIC
G
FM
G
OM
H
IROX
H
oneywell Sensotec
H
oskin
h
oskintrst
H
uba Control
I
CPDAS
I
DT
I
ML
I
MT
I
nnovision SYSTEMS
I
PETRONIK
J
eol
K
arl Storz
L
ebow
L
oadstar
M
+W Instruments
M
acro Sensors
M
antracourt
M
aple Systems
M
eggit
M
eiri
M
EMSIC
M
etronics
M
eyle
M
ICRO-EPSILON
M
icrosonic
M
icrostrain
M
IKROTRON
M
itutoyo
Déplacement - Mesure
Linéaire
Avec Contact
Type Encodeur
Sans Contact
Laser Doppler
Mesure d’épaisseur
Duromètre - Apareillage d'essais
Métal
Encodeur
Linéaire Absolu
Linéaire Incrémental
Indicateur
Encodeur
Laser - Mesure Optique
Faisceau à Barrage
Mesure 3D
Analyse de forme
Analyse de surface
M
onitran
Non classe
N
ANOSCOPE
N
CTE
N
ikon
N
oeding
O
nset
P
anther
P
ixsys Electronica
P
ositek
P
recitec
P
resi
P
roceq
P
ROSIG
P
ulstec
R
acine
R
edlake
r
st
S
chiltknecht
S
ENSOREX
S
ensy
S
ika
S
iko
S
IUI
S
olartron
S
teinbichler
S
TIL
S
UTRON
S
VSI
T
aergo
T
EA
T
ekscan
t
est2
t
est3
T
ML
T
PSH
T
RICOR
U
ltraflux
U
NIPULSE
V
aisala
V
ision Engineering
V
SE
W
englor