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Nom Description
JED-2300/2300F
JED-2300/2300F
Solution analytique intégrée avec :

- Détecteur SDD pour éléments légers
- Fort taux de comptage
- Résolution 129 eV
- Éléments détectables Be à U
- Cartographie élémentaire
- Simulation spectrale
- Correction de dérive interactive
- Analyse de particules
JSX-1000S
JSX-1000S
Spectromètre de fluorescence de rayons X fournissant une analyse élémentaire rapide et facile en utilisant le fonctionnement de l'écran tactile. Il est équipé de fonctions pour l'analyse conventionnelle qualitative et quantitative (méthode de PF, le calibrage méthode de la courbe), ainsi que le dépistage pour les éléments de la directive RoHS.
Avec une variété de deux options matérielles et logicielles disponibles, il est personnalisable pour couvrir un large éventail de besoins d'analyse.

- Écran tactile
- Fonctions pré-enregistrées pour les applications de solution standard: RoHS, Métaux (Air / vide *), Oxydes (Air / vide *), les matières organiques (Air / vide *)
- SDD haute sensibilité et système optique à court chemin pour l'analyse à haut débit
- Paramètre fondamentaux (FP) des méthodes avancées pour la quantification précise sans échantillons standard.
- Solde résiduel et correction d'épaisseur pour des échantillons biologiques
N/D
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