Jeol
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Microsonde Électronique (EPMA)
Nom Description
JXA-8230
JXA-8230
Microsonde de cinquième génération regroupant tout un savoir faire dans le domaine des stabilités mécaniques, électroniques et dans la gestion du faisceau d'électrons à des fins analytiques.

- Gamme des éléments détectables : 4 Be à 92 U
- Gamme des longueurs d'ondes 0.087 à 9.3nm
- Nombre de spectromètres 1 à 5 (Plus EDS)
- Taille des Echantillons 100mm x 100mm x 50mm
- Plage de débattement X - Y 90mm x 90mm
- Vitesse de déplacement 15mm/s max
- Tension d'Accélération 0.2 à 30kV (100V pas)
- Gamme de courant de faisceau 10-12 à 10-5 A
- Stabilité du faisceau 1 x 10-3 /h
- BEI ( image en rétrodiffusés) TOPO et COMPO
- Gamme de grossissements x40 à 300,000 (WD: 11mm)
JXA-8530F
JXA-8530F
Microsonde à émission de champs révolutionnant la recherche dans le domaine des matériaux et de la géologie.
Le JXA-8530F associe précision, sensibilité et rapidité des analyses grâce à ses caractéristiques remarquables. L'ensemble se pilote simplement depuis une architecture informatique PC. Une interface conviviale simplifie les multiples fonctionnalités de cet outil qui offre la meilleure résolution spatiale analytique.

- Gamme des éléments détectables Be à U
- Gamme des longueurs d'ondes 0.087 à 9.3 nm
- Nombre de spectromètres 1 à 5 (Plus EDS)
- Taille des échantillons 100mm x 100mm x 50mm
- Plage de débattement X - Y 90mm x 90mm
- Tension d'Accélération 1 - 30kV (0.1kV pas)
- Gamme de courant de faisceau 10pA à 500nA
- BEI (image en rétrodiffusés) Détecteur solide
- Gamme de grossissements x40 à 300,000 (WD: 11mm)
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Nom Description
JAMP-9510F
JAMP-9510F
Nanosonde Auger à émission de champ pour les analyses chimiques d'extrême surface. Ses capacités de résolution spatiale et énergétique sont atteintes grâce à 3 éléments essentiels : Une excellente colonne électronique, un détecteur hémisphérique HSA et un canon à ions

- Canon à effet de champs Schottky In-Lens
- tension d'accélération : 0.5 à 30kV
- Courant de sonde : 400nA
- Détecteur de courant: Cage de faraday dans la colonne
- Analyseur hémisphérique
- Détecteurs : Multi-canaux: 7
- Vide 5 x 10-8 Pa
- Platine X: -48mm to +10mm
- Y: ± 10mm
- Z: ± 6mm
- T: 0 to 90°
- R: 360° X, Y, Z, T, R motorisé
- canon à ions
Tension d'accélération / 0.01 4 kV
Densité de courant ›2µA at 3,000 eV, ›0.03µA at 10 eV
JCM-6000
JCM-6000
Microscope électronique à balayage, dans une version combinant puissance et économie permettant d’obtenir des images à fort grossissement (x60,000) avec une résolution élevée et une grande profondeur de champ.
Ce microscope est aussi simple d’utilisation qu’un appareil photo numérique et dispose de la puissance d’une optique électronique d'un MEB JEOL.

- Grossissement De x10 à x60,000
- Modes d'observation : Vide poussé et vidé partiel
- Tensions d’accélération 15 kV, 10 kV, et 5 kV
- Réglage canon : Tout automatique comme les vrais MEB: chauffage, saturation et centrage XY par déflection électromagnétique du canon. Aucune molette de réglage sur le canon. C'est unique sur le marché du MEB de table
- Platine : X: 35mm, Y: 35mm
- Taille maximum de l'échantillon 70mm de diamètre et 50mm de hauteur
- Mode de détection Détecteur d'électrons secondaires ET Détecteur d'électrons rétrodiffusés, c'est unique sur le marché du MEB de table
- Informatique PC tactile sous Windows 7, le GUI couvre tout écran LCD de 21 à 72 pouces et ne se limite pas à la taille d'un écran de PC portable. C'est unique sur le MEB de Table
- EDS : Détecteur SDD de technologie JEOL à détection des éléments légers
- Logiciel intégré dans le logiciel du MEB.
- Correction automatique du probe tracking intéractive intégrée au logiciel.
- Cartographie X, Edition de rapport avec possibilité d'export Word TM Powerpoint TM...
JIB-4501
JIB-4501
Nouvelle plateforme JIB 4501 combinant imagerie SEM haute résolution et découpant des échantillons à l’échelle du 1/10 de micron.

Colonne FIB
- Source ionique : Ga liquid metal ion source
- Résolution 5nm @ à 30kV
- Tension d'accélération 1 à 30kV (in steps)
- Grossissement 30x (for wide view)
100X to 300,000X
- Courant Maxi 60nA (à 30kV)

Colonne MEB
- Source LaB6
- Résolution 2.5nm @ à 30kV
- Tension d'accélération 0.3 à 30kV (in steps)
- Grossissements 5X to 300,000X
- Courant Maxi 1,000nA (at 30kV)
- Platine Goniométrique
X: 76mm
Y: 76mm
Z: 5 à 48mm
- Z' for eucentric point adjustment
- T: -10° to 90°; R: 360° endless
- Type de Pompes SIP (x2), TMP/RP (x2)
- Caractéristiques Essentielles Low vacuum (LV)
- Détecteur Backscatter (BEI)
- Gas injection unit (1)
JIB-4601F
JIB-4601F
Nouvelle plateforme de microscope JEOL équipée d’un canon à émission de champ et d’une Source Ionique de nouvelle génération pour un découpage et un suivi de la gravure en temps réel.

FIB (Focused Ion Beam)
- Source ionique : Ga liquid metal ion source
- Tension d'accélération De 1 à 30 kV
- Grandissement De 30x à 300,000x
- Résolution plus petit que 5 nm
- Courant de faisceau Jusqu'à 60nA
MEB FEG
- Tension d'accélération De 0.2 à 30 kV
- Grossissements : De 20x à 1,000,000x
- Résolution 1.2 nm
- Courant de faisceau de 1 pA à >400 nA
- Platine X: 50 mm; Y: 50 mm; Z: De 1.5 à 41 mm; T: -5 to 70°; R: 360°
JSM-6010Plus LA InTouchScope
JSM-6010Plus LA InTouchScope
Microscope Électronique à Balayage compact multi-applications qui permet de travailler sur tout type d'échantillons : biologiques, minéralogiques, métallurgiques, polymères etc…

L'™InTouchScope offre une toute nouvelle expérience de la microscopie électronique en utilisant la technologie WiFi et la convivialité des appareils électroniques d'aujourd'hui. (Smartphone, Tablette tactile, etc.)
L'interface est intuitive: toutes les Applications du MEB sont accessible du bout des doigts grâce à l’écran tactile. L'utilisateur peut élargir les fenêtres et les images avec deux doigts, changer le grandissement, le focus d’un seul geste. Avec le JSM-6010PLus , vous accédez aux capacités et résolutions des meilleurs MEB tungtène JEOL avec la simplicité des MEB de table !
Une version analytique de l’™InTouchScope est disponible grâce à la spectroscopie à dispersion d'énergie (EDS, EDX) avec un nouveau détecteur SDD (sans azote) de dernière génération entièrement intégré dans le logiciel tactile du MEB.
- Grossissements De x5 à x300,000 (format polaroid)
- Tension d'accélération :à partir de 500V
- Résolution : 3,7nm à 20keV, 15nm à 1keV, 8nm à 3keV
- Détecteurs : Détecteur d'électrons secondaires type Everhart Thornley
Détecteur d'électrons rétrodiffusés: multi-segments BSED
- Mode Pression Variable ; Standard
- Platine Goniométrique eucentrique : X=80mm, Y=40mm, Z=5mm-48mm
R=360° (continu)
Tilt -10/+90°
(Motorisation disponible)
- Taille de l'échantillon Jusqu'à 150mm de diamètre
- Informatique Au choix: PC portable ou Ordinateur tactile grand écran, Ipad(TM) Ready
- Résolution max des images 5120×3840
- EDS SDD intégré (Dans la version LA)


Nouveau ! Vous pouvez piloter entièrement votre MEB grâce à votre Ipad ! Toutes les fonctionnalités du MEB sont disponibles à partir de l'Ipad: déplacement de l'échantillon, grandissement, focus, contraste, brillance, etc. Vous pouvez désormais aider d'autres utilisateurs du MEB sans bouger de votre bureau !
JSM-6510 LV
JSM-6510 LV
Microscope Électronique à Balayage avec Canon à filament de tungstène pour: l'analyse de défauts, l'inspection, la caractérisation, l'imagerie, l'analyse X, les échantillons humides, les échantillons non conducteurs et non préparés et permettant de travailler en vide conventionnel ou dégradé, pour l’analyse de divers types d'échantillons (métalliques, céramiques, polymères et organiques) en évitant au maximum les phénomènes de charge.

- Résolution HV 3,0 nm (30 kV), 8 nm (3 kV), 15 nm (1 kV)
- Mode LV 4,0 nm (30 kV)
- Grossissement × 5 × à 300 000 (format de l’image 128 mm × 96 mm)
- Grossissements prédéfinis 5 étape, sélectionnable par l'utilisateur
- Conditions de fonctionnement personnalisées (Optique, mode image, la pression LV * 1)
- Tension d'accélération de 0,5 kV à 30 kV
- Filament : Filament usine pré-centrée
- Canon à électrons Entièrement automatisé, commande manuelle
- Condenseur Zoom lentille de condenseur
- Objectif de Super conique objectif
- Image électrique changement ± 50 pm (WD = 10 mm)
- Fonctions de mise au point automatique, luminosité, contraste, stigmateur
- Platine Eucentrique : X: 80 mm, Y: 40 mm, Z: 5 mm à 48 mm,
- Tilt: -10 ° à 90 °, 360 ° de rotation
JSM-7100F
JSM-7100F
Microscope Électronique à Balayage avec un canon à émission de champ (FEG) à cathode chaude (Schottky) en High Vacuum ou en Low Vacuum pour les applications analytiques exigeantes et pour la haute résolution. Le JSM-7100F est équipé d’une grande platine, 5-axes motorisée, eucentrique, et d’un sas d’introduction d’échantillons semi-automatique.

Les applications de ce microscope peuvent être étendues à de nombreux systèmes d'analyses grâce à une géométrie optimale. La chambre objet accepte des échantillons jusqu’à 200mm de diamètre.
La nouvelle interface graphique offre une facilité d'utilisation exceptionnelle. Quatre images actives (Live) peuvent être visualisées simultanément, incluant le mixage de signaux. Elles peuvent toutes être acquises et enregistrées simultanément avec un seul balayage.

Le MEB FEG JSM-7100F intègre les systèmes EDS, WDS, lithographie électronique, tomographie X, cathodoluminescence, EBIC, Cryo, base de données images, etc.

- Résolution : 1.2 nm (à 30 kV)
2.0 nm (à 1.0 kV en mode GB)
- Résolution Analytique : 3.0 nm (à 15 kV, WD 10mm, 5nA)
- Tension d’Accélération De 10V à 30 kV
- Grossissements x10 to 1,000,000x (au format 120mm x 90mm)
- Modes images : SED (image en électrons secondaires)
SRBED - Option (image en électrons rétrodiffusés
UED - Option - Détecteur In-Lens avec système de filtrage en énergie (SE et BSE)
- Platine : Eucentrique mécaniquement à toutes distances de travail (5 axes motorisés)
- Sas d’introduction d’objet : Standard, pour échantillon de 100mm de diamètre
- Sélecteur d’Images : SEI, COMPO, TOPO, EDS, ADD, Entrée Auxiliaire
- Fonctions automatiques
AFD (Auto Focus)
ACB (Auto Contraste et Brillance)
ASD (Auto Astigmatisme)
AFD ACB
JSM-7800F et JSM-7800F Prime
JSM-7800F et JSM-7800F Prime
Microscopes Électroniques à Balayage avec un canon à émission de champ (FEG) Ultra haute-résolution (UHR) Analytique pour un large éventail de domaines de recherche permettant d’obtenir des résolutions subnanométriques même à 1kV et de révéler les reliefs d'extrême surface grâce à une tension d’accélération pouvant descendre jusqu’à 10V grâce à sa toute nouvelle lentille objectif Super Hybride et aux développements de JEOL sur la colonne électronique (High Brightness Gun)

Le JSM-7800F Prime est le seul appareil vous garantissant une résolution de 0,7nm de résolution de 30kV à 1kV sans réglages spécifiques dans la colonne !

Le JSM-7800F Prime couplé aux derniers développements d'EDS permet désormais d'atteindre 5nm de résolution en EDS

- Technologie d'émission : Schottky à immersion (Brevet JEOL) et (High Brightness Schottky à immersion pour la version JSM-7800F Prime)
- Résolution 0,8 nm (15 kV) et 0,7 nm (15 kV) pour le JSM-7800F Prime
1,2 nm (1 kV) et 3nm à 100 V, et 0.7 nm (1kV) pour le JSM-7800F Prime
Résolution possible de 0,6 nm (30 kV) en mode STEM
- Grandissements de x25 à x1.000.000 (format 120mm x 90mm)
- Tension d’accélération de 10 volts à 30 kV
- Courant de faisceau de 1 pA à >400 nA
- Détecteurs BEI, SEI IN LENS dans la lentille et
- BEI, SEI dans la chambre
- Détecteur SRBEI rétractable
- Filtre en Energie permettant de sélectionner le signal SE ou BSE
- Gentle beam Décélération intégrée de faisceau
- Sas d’introduction d’échantillons standard semi-automatique
- Platine Eucentrique, Platine motorisée 5 axes
- Design économie d’énergie : Consommation en utilisation standard: 1,2 kVA
- Mode veille: 1 kVA
- Console opératoire à l’arrêt: 0,76 Kva
JSM-IT300 et JSMIT-300LV
JSM-IT300 et JSMIT-300LV
Microscope électronique à balayage performant pour la caractérisation rapide de la matière dans tous les domaines de la recherche fondamentale et pour des applications industrielles et d’expertises.
Avec une résolution de 3.0nm à 30kV et 15nm à 1kV, le JSM-IT300 permet l’observation d’une grande variété d’échantillon, des polymères grâce à la basse tension (15nm à 1kV) aux matériaux métalliques en passant par les poudres et les échantillons géologiques.
Le JSM-IT300LV permet des observations de routine à des grandissements bien supérieurs à ceux d’un microscope optique avec très grande une profondeur de champs. Le microscope électronique à balayage permet des mesures détaillées, y compris la mesure 3D à partir d'images stéréo. L'affichage simultané des images en électrons secondaires et rétrodiffusés permet à l'utilisateur d’observer et de comparer des détails spécifiques.
Cet appareil est également un outil Analytique il peut être équipé d’un système à dispersion d'énergie (spectromètre à rayons X, EDS) pour l’analyse élémentaire dans sa version JSM-IT300LA, d’un spectromètre en longueur d’onde (WDS), de cathodoluminescence de lithographie, de diffraction électronique (EBSD), de lithographie et de nombreux autres outils de caractérisations( platine chauffante, traction, etc….)...

- Grossissements De x5 à x300,000
- Tension d'accélération à partir de 300V
- Détecteurs : Détecteur d'électrons secondaires large angle solide
- Détecteur d'électrons rétrodiffusés: type NIP(brevet JEOL)
- Mode Pression Vide poussé et Mode pression variable 10Pa à 650Pa pour la version JSm-IT300LV
- Platine Goniométrique eucentrique X=125mm, Y=100mm, Z=5mm-80mm
R=360° (continu)
Tilt -10/+90°
- Taille de l'échantillon Jusqu'à 200mm de diamètre
- Informatique Au choix: PC portable ou Ordinateur tactile grand écran, Ipad(TM) Ready
- Résolution max des images 5120×3840
- EDS SDD intégré (Dans la version LA)
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Nom Description
EM-09100IS (Ion Slicer™)
EM-09100IS  (Ion Slicer™)
Appareil de préparation d'échantillon à très faible angle de faisceau pour pour TEM / STEM / SEM / EPMA / AUGER permettant de préparer des échantillons minces sans l’aide de solvants ou de produits chimiques et ne nécessite rien de plus qu’une simple découpe rectangulaire (pas de découpe de disque ou de « dimple grinding » (érosion en cuvette)

- Tension d'accélération : 1 à 8 kV
- angle du faisceau : jusqu'à ±6° (0.1° de pas)
- diamètre du faisceau : 500µm (FWHM)
- Vitesse d'érosion : 5µm/min (8 kV, silicium)
- Gaz : Argon
- taille échantillon : 2.8mm (longueur) x 0.5 mm (largeur) x 0.1mm (épaisseur)
- mesure de pression : Gauge Penning
- Camera CCD à l'intérieur
- Dimension et poids IS 500mm (L) x 600mm (l) x 547mm (H), 63kg
pompe primaire 150mm (W) x 427mm (D) x 230.5mm (H), 16kg
écranLCD 326mm (L) x 173mm (l) x 380mm (H), 3.7kg
IB-09060CIS (Cryo Ion Slicer™)
IB-09060CIS (Cryo Ion Slicer™)
Appareil de préparation d'échantillon à très faible angle de faisceau permettant de préparer des échantillons minces sans l’aide de solvants ou de produits chimiques et ne nécessite rien de plus qu’une simple découpe rectangulaire (pas de découpe de disque ou de « dimple grinding » (érosion en cuvette)

- Minimise les dommages thermiques lors de l'irradiation d'ions en utilisant de l'azote liquide
- Prépare TEM échantillons mince lamelle de film et SEM échantillons de section transversale *
- Long temps de rétention cryo d'éliminer entièrement les dommages
- L'échange d'échantillons avec de l'azote liquide injecté
- Taille de l'échantillon maximale: 2,8 mm (L) x 1,0 mm (W) x 0,1 mm (T)
IB-19500CP et IB-19510CP
IB-19500CP et IB-19510CP
Équipement pour le Polissage et la préparation d'échantillons pour les MEB, les Microsondes de Castaings (EPMA) ou encore les microsondes Auger pour une qualité de surface parfaite pour l'observation.
Le CP est un polisseur ionique qui vous permettra de préparer tous les types d'échantillons: qu'ils soient durs, mous, en multicouches de ductilité différentes, ils seront tous très aisément préparés en préservant les structures et sans artefacts de polissage.
Son faisceau d'Argon, couplé à de nombreuses innovations JEOL brevetées polira des sections transverses de tous les types de matériaux sur de grandes surfaces.
Le faisceau ayant un angle d'incidence extrêmement faible, l'argon ne s'implémente pas dans à la surface de l'échantillon mais le poli proprement en le laissant vierge de tout artefact.

Avec le CP, obtenir une surface miroir est désormais facile et automatique! Et ceci même sur des matériaux difficiles à polir comme des matériaux mous types cuivre, aluminium, polymères ou comme les matériaux durs type céramique ou verre.

Grâce à la caméra intégrée, vous pourrez placer votre échantillon avec une excellente précision pour avoir toujours l'assurance de réussir votre préparation.
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Nom Description
JED-2300/2300F
JED-2300/2300F
Solution analytique intégrée avec :

- Détecteur SDD pour éléments légers
- Fort taux de comptage
- Résolution 129 eV
- Éléments détectables Be à U
- Cartographie élémentaire
- Simulation spectrale
- Correction de dérive interactive
- Analyse de particules
JSX-1000S
JSX-1000S
Spectromètre de fluorescence de rayons X fournissant une analyse élémentaire rapide et facile en utilisant le fonctionnement de l'écran tactile. Il est équipé de fonctions pour l'analyse conventionnelle qualitative et quantitative (méthode de PF, le calibrage méthode de la courbe), ainsi que le dépistage pour les éléments de la directive RoHS.
Avec une variété de deux options matérielles et logicielles disponibles, il est personnalisable pour couvrir un large éventail de besoins d'analyse.

- Écran tactile
- Fonctions pré-enregistrées pour les applications de solution standard: RoHS, Métaux (Air / vide *), Oxydes (Air / vide *), les matières organiques (Air / vide *)
- SDD haute sensibilité et système optique à court chemin pour l'analyse à haut débit
- Paramètre fondamentaux (FP) des méthodes avancées pour la quantification précise sans échantillons standard.
- Solde résiduel et correction d'épaisseur pour des échantillons biologiques
N/D
N/D
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Nom Description
JMS-700 MStation™
JMS-700 MStation™
Spectromètre de Masse Double Focalisation à Secteur Magnétique entièrement automatisé et de haute performance, conçu à la fois haute résolution GC / MS et LC / MS analys, et capable d'atteindre un pouvoir de résolution de 60 000 ou plus à 10% de vallée.

Le MStation™ utilise un système de lentille quadripolaire pour optimiser la transmission d'ions et la forme du faisceau entre la source d'ions et le secteur magnétique. Ce système de lentille quadripolaire permet l'utilisation d'une fente d'entrée large et donc plus d'ions sont transmis dans l'analyseur de masse puis sur une double conception classique de focalisation de l'instrument. L'utilisation d'une source d'ions à 10 kV, en combinaison avec un détecteur d'ions à base de dynodes de conversion de postacceleration permet une détection efficace de soit des ions positifs ou négatifs.
Le MStation™ est garanti pour détecter l'ion moléculaire dérivé de 200 pg de stéarate de méthyle avec un rapport S / N de 400 ou mieux dans le mode AE.
JMS-800D
JMS-800D
Spectromètre de masse analyseur de dioxine avec des fonctionnalités avancées telles qu’un détecteur photomultiplicateur permettant une plus grande stabilité sur une période plus longue que celle d'un multiplicateur d'électrons classique . Son interface à double colonne permet à deux colonnes d’être connectées à la source d'ions en même temps et d’ être modifiées sans casser le vide de la source d'ions.

- Haute résolution (60 000 à 10% de vallée).
- Haute sensibilité (S / N> 30 garantie pour la 2,3,7,8-TeCDD 30 fg).
- Fonctionnement entièrement automatisé avec une interface utilisateur graphique facile à utiliser et diagnostics intégrés pour tous les paramètres de l'instrument
- Facile d'entretien et un fonctionnement fiable
JMS-S3000
JMS-S3000
Premier spectromètre de masse MALDI-TOF à analyseur à Temps de Vol de type SPIRAL d'Ultra-Haute Performance.
L'optique ionique ''Spiral'', sous brevet JEOL, assure une distance de vol pour les ions de 17m dans un volume très compact. Le SpiralTOF™ devient le must de sa catégorie en intégrant des performances inégalées pour un Maldi-TOF:

- Différentes configurations possibles: SpiralTOF, TOF/TOF et TOF linéaire
- Résolution >60,000 pour une large gamme de masse
- Précision en masse inférieure à la ppm en standard interne
- Sélectivité sur l'ion précurseur mono isotopique
- Une vraie Dissociation Induite par Collision à Haute Energie (20 keV CID)
- Élimination des artéfacts formés en Post Source Decay(PSD)
JMS-T100GCV - AccuTOF™ GCv 4G
JMS-T100GCV -  AccuTOF™ GCv 4G
Système GC/MS possédant la meilleure sensibilité (S/N > 100 OFN à 1pg/µL) de son segment avec sa haute résolution et sa grande précision sur la masse permettent une détermination rapide de la composition élémentaire et l'identification de composés cibles.

Le JMS-T100GCv est parfaitement adapté à l'analyse de composés inconnus dans des mélanges complexes même à des faibles concentrations. Ses domaines d'applications sont très larges tels que l'environnement, la pétrochimie, les polymères, les matériaux, la médecine, l'agroalimentaire, les parfums...

- Précision sur la masse : 1,5mDa ou 4 ppm(r.m.s.)
- Résolution : R≥ 8000 (m/z 617)
- Sensibilité : S/N ≥ 100(OFN 1pg)
- Vitesse d'acquisition jusqu'à 50 spectres/sec
- Gamme de masse m/z 4 ~ 5000
- Modes d'ionisation EI (+/-), C I (+/-), FI, FD, DEI (+/-), DCI (+/-)
- Modes d'introduction : Couplage GC, DEP (Sonde d'Exposition Directe), DIP (Sonde d'Insertion Directe), FD (Sondes à Désorption de Champ), Sonde LIFDI (par Linden CMS)
JMS-T100LP AccuTOF™ LC plus 4G
JMS-T100LP AccuTOF™ LC plus 4G
Spectromètre de masse à haute résolution de temps de vol (API-HRTOFMS) avec une ionisation de la pression atmosphérique offrant des solutions pour une grande variété de domaines des technologies d'ionisation uniques de JEOL, DART et ColdSpray, en plus de l'ionisation par électronébulisation standard (ESI), la technique la plus largement utilisée d'ionisation pour chromatographie en phase liquide.

AccuTOF DART
L'AccuTOF DART augmente d'une façon significative votre capacité d'analyse.
Plus besoin de solvant, plus besoin d'une préparation fastidieuse, il suffit uniquement de placer l'échantillon entre la source DART et l'entrée du spectromètre pour obtenir des mesures de masse à très haute précision et haute résolution.

L'AccuTOF DART peut analyser la plupart des composés issus de réactions de synthèse, d'extraits bruts, de poudres ou de tablettes inconnues, de liquides plus ou moins visqueux, de vapeurs, ou de tout type de matière...
d'une source electrospray (ESI) orthogonale.

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CPDAS
I
DT
I
ML
I
MT
I
nnovision SYSTEMS
I
PETRONIK
J
eol
Microscope
Microsonde Électronique (EPMA)
Microscope à Balayage Électronique (SEM)
Préparation d’échantillons pour SEM, TEM, STEM, EPMA et AUGER
Spectromètre à Fluorescence –Rayon-X (XRF)
Spectromètre de Masse (MS)
K
arl Storz
L
ebow
L
oadstar
M
+W Instruments
M
acro Sensors
M
antracourt
M
aple Systems
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eggit
M
eiri
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EMSIC
M
etronics
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eyle
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ICRO-EPSILON
M
icrosonic
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icrostrain
M
IKROTRON
M
itutoyo
M
onitran
Non classe
N
ANOSCOPE
N
CTE
N
ikon
N
oeding
O
nset
P
anther
P
ixsys Electronica
P
ositek
P
recitec
P
resi
P
roceq
P
ROSIG
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ulstec
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ENSOREX
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ensy
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IUI
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S
teinbichler
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TIL
S
UTRON
S
VSI
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est2
t
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ML
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