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Mots clés: profilometre

Nom Description
Altisurf 100
Altisurf 100
- Profilomètre de course 100mm
- Sondes embarquées indexées
- Jusqu’à 2 axes motorisés : XZ
- Codeurs 0,1µm
- Correction non-linéaire des axes
- Calibration de l’hystérésis
- Logiciel sous Windows XP
AltiSurf 500
AltiSurf 500
Système de multi sonde, conçu pour analyser la surface de composant, étudier la reconstruction morphologique de l’échantillon.

- Plateforme de métrologie modulaire 100X100X100mm
- Spécifications - type : 2nm/mm, sigma/step inf. 3nm
- Jusqu’à 5 sondes embarquées indexées
- Jusqu’à 4 axes motorisés cc: XYZW
- Codeurs 0,1µm
- Correction non-linéaire des axes
Altisurf 520
Altisurf 520
Topographie de surface grande capacité, multi- sonde. Un logiciel de traitement arrière lui permet d’analyser la rugosité, la tribologie ainsi que le phénomène topographique.

- Plateforme de métrologie modulaire 200X200X200mm
- Spécifications - type : mfd 2nm/mm, sigma/step inf. 3nm
- Jusqu’à 5 sondes embarquées indexées
- Jusqu’à 4 axes motorisés cc: XYZW
- Codeurs 0,1µm
- Correction non-linéaire des axes
Altisurf 520 Round RT
Altisurf 520 Round RT
Système de mesure, conçu pour analyser les états de surface et formes. Cycles circonférentiels, cycles axiaux, topographie 3D, défectologie.

- Spécifications : plus/moins 360°, rés.10-3°, 80°/sec, voilage plus/moins 12,5µrad, Pt.
type spec: 0,4µ/50mm, capa Ra type: 0,04µ…
- Plateau rotatif et table croisée
- Capteurs mécaniques 2µ et petit alésage
- Capteur optique confocal chromatique optionnel
- 5 axes motorisés cc
Altisurf 520 Twin
Altisurf 520 Twin
Système de mesure, conçu pour analyser les états de surface et formes. Idéal pour les mesures de papier- emballage, sidérurgie, feuillards tous matériaux.

- Spécifications : Max.f.dév. à h=200mm inf. à 4µ/100mm
- Mesure multisonde double-face
- Multi-voies optiques 3 mm, 300µ, CCD
- Axes motorisés cc
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