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Mots clés: rugosimètre

Nom Description
Altisurf 50
Altisurf 50
Système de mesure, conçu pour mesurer l’états de surface, profondeur de gravure et la planéité.

- Spécifications type : 0,5µ/50mm, poids: inf. 3 kgs
- Échelle de mesure de 130 µm à 3.5 mm
- Tables croisées modulaires de faible encombrement
- Capteur optique confocal chromatique 1Khz sur bus ou 4 Khz
- Logiciel AltiSurf50
Altisurf 520 Twin
Altisurf 520 Twin
Système de mesure, conçu pour analyser les états de surface et formes. Idéal pour les mesures de papier- emballage, sidérurgie, feuillards tous matériaux.

- Spécifications : Max.f.dév. à h=200mm inf. à 4µ/100mm
- Mesure multisonde double-face
- Multi-voies optiques 3 mm, 300µ, CCD
- Axes motorisés cc
Altisurf© 50
Altisurf© 50
Système de mesure optique 2D et 3D très compact et portatif conçu pour la topographie de surface, la rugosité, l’analyse de formes et la métrologie dimensionnelle.

•Capteur optique confocal chromatique
•Fréquence d’échantillonnage : 1kHz a 4 kHz
•Résolution : 0.02 µ
•Course: 25 x 25 x 25 mm
•Vitesse: jusqu’a 30 mm/s
•PC industriel
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