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Microscope > Inspection de Advanced Image Concepts - tous

Nom Description
Analyses de matériaux : FEIN M-50
Analyses de matériaux : FEIN M-50
Microscope pour la recherche de haute qualité avec illumination transmise et réfléchie, pour toutes observations, incluant les applications en champ clair, en champ sombre , polarisation, DIC, fluorescence…

- Système optique corrigé pour la couleur
- Tête de visualisation trinoculaire inclinée à 30 degrés, champ super large, ratio binoculaire/trinoculaire 100 :0 ou 20 :80 ou 0 :100, distance inter-pupillaires 50-76 mm
- Haut point d’observation, oculaire PL, dioptrie ajustable
- Objectif MplanFL - BD champ clair / sombre objectifs métallurgiques semi-apochromatiques, 5x, 10x, 20x, 50x, 100x
- Tourelle sextuple DIC avec nez incliné pour champ lumineux/sombre
- Platine 4’’ à double couche avec plaque de verre avec déplacement 105(X) x 102(Y)mm
- Mise au point co-axiale fine et grossière, distance d’ajustement fin 33mm de précision et 0.001mm pour mise au point grossière
- Illumination réfléchie RX50MRL et transmise Lampe halogène 100W
Série HRM-300
Série HRM-300
Microscope à optiques corrigés avec modules individuels interchangeables pour les mesures simples et les analyses complexes.

- Illumination réfléchie (BF, BF/ DF ou DIC)
- Filtre de polarisation et d’analyse
- Illumination transmise (filtres ND6, ND25 et LB)
- Système HRM-300 avec module 3D haute résolution, axe Z de vitesse 1.4 mm/s pour l’acquisition de données 2D et la conversion en 3D, et manette de contrôle pour gérer la précision de l’axe Z.
- Objectifs : Plan semi-apo
- Oculaires HRM-300 25mm FN et angle de 20 degrés.
-Indicateur de sélection d’illumination (illumination réfléchie/transmise, brillance, Mode Eco, position de l’axe Z)
- Platine multi-fonctionnelle de 300 mmX400 mm à 600mmX600mm.
- Caméra professionnelle digitale LUSIS
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